著者 Michinishi, Hiroyuki| Yokohira, Tokumi| Okamoto, Takuji| Kobayashi, Toshifumi| Hondo, Tsutomu|
発行日 2002-11
出版物タイトル Test Symposium
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Osada, Shigeyuki| Yokohira, Tokumi| Hui, Wang| Okayama, Kiyohiko| Yamai, Nariyoshi|
発行日 2005-11
出版物タイトル Information and Telecommunication Technologies
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Michinishi, Hiroyuki| Yokohira, Tokumi| Okamoto, Takuji| Inoue, Tomoo| Fujiwara, Hideo|
発行日 1996-11
出版物タイトル Test Symposium
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Michinishi, Hiroyuki| Yokohira, Tokumi| Okamoto, Takuji| Kobayashi, Toshifumi| Hondo, Tsutomu|
発行日 2003-11
出版物タイトル Test Symposium
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Yokohira, Tokumi| Okayama, Kiyohiko| Murakami, Takashi| Takarako, Kayo|
発行日 2005-11
出版物タイトル Information and Telecommunication Technologies
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Yokohira, Tokumi| Okayama, Kiyohiko| Murakami, Takashi| Takarako, Kayo|
発行日 2005-11
出版物タイトル Information and Telecommunication Technologies
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Yokohira, Tokumi| Sugano, Masashi| Nishida, Takeshi| Miyahara, Hideo|
発行日 1991-05-07
出版物タイトル Reliability
40巻
4号
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Michinishi, Hiroyuki| Yokohira, Tokumi| Okamoto, Takuji| Inoue, Tomoo| Fujiwara, Hideo|
発行日 1997-11-17
出版物タイトル Test Symposium
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Funabiki, Nobuo| Yokohira, Tokumi| Nakanishi, Toru| Tajima, Shigeto| Higashino, Teruo|
発行日 2001-10
出版物タイトル Systems
4巻
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Yokohira, Tokumi| Shimizu, Toshimi| Michinishi, Hiroyuki| Sugiyama, Yuji| Okamoto, Takuji|
発行日 1994-11-15
出版物タイトル Test Symposium
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Michinishi, Hiroyuki| Yokohira, Tokumi| Okamoto, Takuji|
発行日 1992-11-26
出版物タイトル Test Symposium
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Michinishi, Hiroyuki| Yokohira, Tokumi| Okamoto, Takuji| Inoue, Tomoo| Fujiwara, Hideo|
発行日 1996-11
出版物タイトル Test Symposium
資料タイプ 学術雑誌論文
著者 Michinishi, Hiroyuki| Yokohira, Tokumi| Okamoto, Takuji|
発行日 1993-11
出版物タイトル Test Symposium
資料タイプ 学術雑誌論文
JaLCDOI 10.18926/15505
フルテキストURL Mem_Fac_Eng_OU_24_2_89.pdf
著者 横平 徳美|
抄録 This paper considers a test set for an ALU with look ahead carry generators(LCGs). The ALU is logically partitioned into two groups of blocks, the group of one-bit operation units and LCG group. Each group is tested in parallel and exhaustively, independent of the other. And an easily testable design is applied to several blocks for decreasing the number of the input combinations of them. Under the easily testable design, a minimum test set for each group is generated, and the upper and lower bounds for a minimum test for the ALU are derived. The difference of the lower and upper bounds is not large, and a test set whose number of test vectors is equal to the upper bound can be easily obtained as the union of minimum test sets for two groups. Hence, the union can be used as a complete and practical test set for the ALU.
出版物タイトル Memoirs of the Faculty of Engineering, Okayama University
発行日 1990-03-29
24巻
2号
開始ページ 89
終了ページ 98
ISSN 0475-0071
言語 English
論文のバージョン publisher
NAID 120002307212